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内部残余应力全貌测试技术-轮廓法

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价格:111.75元
商品属性:
  • 版次:第1版
  • 开本:16开
  • 字数:300千字
  • 出版社:科学
  • 印次:1
  • 作者:刘川
  • 出版日期:2024-03-01
  • 页数:233
  • isbn:9787030777775
  • 装帧:平装
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  • 版次第1版
  • 开本16开
  • 字数300千字
  • 出版社科学
  • 印次1
  • 作者刘川
  • 出版日期2024-03-01
  • 页数233
  • isbn9787030777775
  • 装帧平装
  • 印刷日期2024-03-01